GB 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 總則
GB 2422—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語
GB/T 2423.1—2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
GB/T 2423.1—2001 電子電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2—2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法
GB/T 2423.3—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4—1993 電工電子產(chǎn)品環(huán)基本境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒
GB/T 2423.8—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落
GB/T 2423.9—2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.9—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱
GB/T 2423.10—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機(jī)振動 一般要求
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機(jī)振動 高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機(jī)振動 中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機(jī)振動 低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度　
GB/T 2423.15—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗J和導(dǎo)則: 長霉
GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka: 鹽霧試驗方法
GB/T 2423.18—1985（2000） 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb：交變鹽霧試驗方法（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.18—2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc: 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法　
GB 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd: 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
GB/T 2423.21—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22—2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法
GB/T 2423.23—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q：密封
GB/T 2423.24—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.27—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
GB/T 2423.28—1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T：錫焊試驗方法
GB 2423.29-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗U:引出端及整體安裝強(qiáng)度
GB/T 2423.30—1999 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗XA：在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則：在清洗劑中金字
GB/T 2423.31—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法
GB/T 2423.32—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB/T 2423.33—1982（1989） 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗方法
GB/T 2423.34—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD：溫度/濕度綜合循環(huán)試驗方法
GB/T 2423.35—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/Afc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.36—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.37—1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L：沙塵試驗方法
GB/T 2423.38—1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R：水試驗方法
GB/T 2423.39—1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee：彈跳試驗方法
GB/T 2423.40—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41—1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗
GB/T 2423.42—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.43—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊、碰撞、振動和穩(wěn)態(tài)加速度等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea) 、碰撞(Eb) 、振動(Fc和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ca)等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Eg: 撞擊 彈簧錘
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊 擺錘
GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fg: 聲振
GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff: 振動—時間歷程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fe: 振動—正弦拍頻法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 ?試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ke 流動混合氣體腐蝕試驗
GB/T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.2-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.10-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則
GB/T 2424.11-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.12-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.13-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.14-1993 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部份：試驗方法 太陽輻射試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.15-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 錫焊試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.19-1984 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.20-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.21-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.23-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 水試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度（低溫、高溫）和振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部份：試驗導(dǎo)則 地震試驗方法

 

第2部分 試驗方法
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編
GB 3836.11—1991 爆炸性環(huán)境用防爆電氣設(shè)備 ZUI大試驗安全間隙測定方法
GB 3836.12—1991 爆炸性環(huán)境用防爆電氣設(shè)備 氣體或蒸氣混合物按照其ZUI大試驗安全間隙和ZUI小點燃電流的分級
GB 4793.1-1995 測量、控制和試驗室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分：通用要求
GB 4793.2-2001 測量、控制及實驗室用電氣設(shè)備的安全電工測量和試驗用手持電流鉗的特殊要求
GB 4793.5-2001 測量、控制及實驗室用電氣設(shè)備的安全電工測量和試驗用手持探頭的特殊要求
GB 7251.1-1997 低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 **部分: 型式試驗和部分型式試驗成套設(shè)備
GB/T 14598.13-1998 量度繼電器和保護(hù)裝置的電氣干擾試驗 第1部分 1MHz脈沖群干擾試驗
GB/T 19183.5—2003 電子設(shè)備機(jī)械結(jié)構(gòu)戶外機(jī)殼 第3部分：機(jī)柜和箱休的氣候、機(jī)械試驗及安全要求
GB/T 2317.2—2000 電力金具 電暈和無線電干擾試驗
GB/T 15174-1994 可靠性增長大綱
GB/T 7289-1987 可靠性、維修性與有效性預(yù)計報告編寫指南
GB/T 3187-1994 可靠性、維修性術(shù)語
GB/T 7826-1987 系統(tǒng)可靠性分析技術(shù) 失效模式和效應(yīng)分析（FMEA）程序
GB/T 7827-1987 可靠性預(yù)計程序
GB/T 7828-1987 可靠性設(shè)計評審
GB/T 7829-1987 故障樹分析程序
GB/T 4888-1985 故障樹名詞術(shù)語和符號
GB/T 5329-1985 試驗篩與篩分試驗術(shù)語
GB 4793.1-1995 測量、控制和試驗室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分:通用要求
GB/T 2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則
GB/T 2689.2-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法 (用于威布爾分布)
GB/T 2689.3-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法 (用于威布爾分布)
GB/T 2689.4-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的ZUI好線性無偏估計法 (用于威布爾分布)
GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧氣加速老化試驗方法
GB/T 9586-1988 熒光數(shù)碼顯示管加速壽命試驗方法
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備
GB/T 5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T 5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB 5170.13-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦) 試驗用機(jī)械振動臺
GB 5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦) 試驗用電動振動臺
GB 5170.15-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦) 試驗用液壓振動臺
GB 5170.16-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗用離心式試驗機(jī)
GB 5170.17-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(正弦) 綜合試驗設(shè)備
GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備

GB 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB 2423.16-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗J:長霉試驗方法
GB 2423.18-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb:交變鹽霧試驗方法 (氯化鈉溶液)
GB 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
GB 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
GB 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法
GB 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
GB 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T:錫焊試驗方法
GB 2423.29-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗U:引出端及整體安裝強(qiáng)度
GB 2423.30-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗XA:在清洗劑中浸漬
GB 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法
GB 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
GB 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法
GB 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法
GB 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法
GB 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L:砂塵試驗方法
GB 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R:水試驗方法
GB 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee:彈跳試驗方法
GB 2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦)
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機(jī)振動一般要求
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機(jī)振動高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法
GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Q:密封
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法
GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb)、振動(Fc和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ca)等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊彈簧錘
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊擺錘
GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振
GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Ff:振動—時間歷程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動—正弦拍頻法
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
儀器卷
GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗
開關(guān)電器、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、電線電纜卷
GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 ?試驗J和導(dǎo)則：長霉
GB/T 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 ?試驗U:引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 ?試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 ?試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落